迪凯 DIT-6 双色测温仪 晶体炉专用 双色红外测温仪

DIT比色测温仪：采用双色测温方法，即通过目标物体辐射的两个红外波段的能量比值来确定被测物体的温度。因测量结果取决于两个波段辐射功率之比，所以，辐射能量的部分损失对测量结果没有影响。可克服传输介质有灰尘、烟雾、水汽，视场局部遮挡和测量距离变化造成的辐射能量衰减而引起的测量误差，特别适用于相对恶劣的测温环境。

金属热加工过程中，金属表面不可避免会快速氧化形成氧化层，氧化层会随温度变化脱落或者皴裂（例如轧钢生产线），皴裂氧化皮和金属本体形成间隙，使得氧化层的温度低于金属本体温度。双色测温仪可以很好的克服因此引起的测量误差。使得生产工艺数据可靠且离散性小，便于工艺分析。

比色测温对于真空或保护气体加热系统也具有优势，可以克服玻璃窗口材料引起的测量误差，让测量值更接近真值。

DIT比色测温仪具有目视瞄准系统，非常方便用户安装及实时查看测温仪是否对准目标。对于密封环境的测量系统，目视瞄准还可以作为炉内工况的观察窗口。

基本参数　

型号	DIT-6H1	DIT-6H2	DIT-6H3
温度范围（可定制）	600-1400℃	800-1800℃	1000-3000℃
探测器 响应波长	Si 0.8-1.1μm	Si 0.4-1.1μm
测量精度	±0.75%FS
重复性精度	0.2%
温度分辨力	0.5℃
响应时间	<15ms
发射率	0.10- 1.00 可调节（步长0.01）
距离系数	280:1
可测量蕞小目标	2mm
测量距离	0.56m- ∞
模拟输出	0-20mA/4-20mA, 0-5V
数字输出	RS485
供电电源	24VDC（±20％，500mA）
抗扰标准	JB/T9233.11-1999
热冲击	GB/T2423.1, GB/T2423.2